特許
J-GLOBAL ID：200903063755757680
粒子の多次元分布の表示方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田中 浩 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-220667
公開番号（公開出願番号）：特開平6-043091
出願日： 1992年07月27日
公開日（公表日）： 1994年02月18日
要約：
【要約】【目的】 粒子の2次元分布の表示においてこの分布の各小領域ごとに粒子数の時間的変化を判りやすく表示する。【構成】 粒子個々に2種類のパラメータX1、X2からなる時系列の測定データXを測定時間Tにわたって得る(ステップS2)。測定時間Tを6個に分割した小時間区間T(1)乃至T(6)ごとに測定データXをX(1)乃至X(6)に分割する(ステップS4)。測定データX(1)乃至X(6)ごとにパラメータX1、X2で規定される特徴パラメータ空間を分割した小領域S(1)乃至S(16) に属する粒子数を求める(ステップS6)。測定データXに基づいて特徴パラメータ空間での粒子の分布を表示する(ステップS10 )。各小領域S(1)乃至S(16) の境界線を表示し(ステップS12 )、各小領域S(1)乃至S(16) での粒子数の小時間区間T(1)乃至T(6)ごとの変化を表示する(ステップS14 )。
請求項（抜粋）：
粒子測定により粒子個々に少なくとも2種類のパラメータX1、X2からなる時系列の測定データXを予め定めた測定時間にわたって得る工程と、上記測定時間を複数に分割した各小時間区間にそれぞれ得られた上記測定データごとに上記少なくとも2種類のパラメータX1、X2で規定される特徴パラメータ空間を複数に分割した小領域に属する粒子数を求める工程と、上記測定データXに基づいて上記特徴パラメータ空間での上記粒子の分布を求める工程と、上記特徴パラメータ空間での上記粒子の分布の表示と、上記各小領域の境界線と、上記各小領域における粒子数の上記小区間ごとの変化を表示する工程とを具備する粒子の多次元分布の表示方法。
IPC (2件)：
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