特許
J-GLOBAL ID:200903063764628729

光走査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 川野 宏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-348381
公開番号(公開出願番号):特開2000-171741
出願日: 1998年12月08日
公開日(公表日): 2000年06月23日
要約:
【要約】【目的】 少なくとも一方の面が所定の回折光学面で形成された1枚のコリメートレンズを備えることにより、半導体レーザ光源のモードホッピングによる色収差(ピントずれ)を防ぎ、少ない構成枚数のレンズでありながらデジタル複写機や光プリンタ等に適用可能な高解像度の出力が可能な光走査装置を得る。【構成】 半導体レーザよりなる光源1と、少なくとも一方の面が回折光学面で形成された1枚のコリメートレンズ3と、光偏向器5と、光偏向器5により偏向された光束を被走査面7上に集光し光走査を行なう結像光学系6とを備え、以下の条件式(1)を満足する光走査装置。(1) |Δ<SB>1</SB>×F<SB>2</SB>/F<SB>1</SB><SP>2</SP>| < 0.01ここで、F<SB>1</SB>:コリメートレンズ3の焦点距離 F<SB>2</SB>:結像光学系6の焦点距離Δ<SB>1</SB>:モードホッピングによりコリメートレンズ3において発生する色収差
請求項(抜粋):
半導体レーザよりなる光源と、少なくとも一方の面が回折光学面で形成され該光源からの光束を略平行光束に変換する1枚のコリメートレンズと、該コリメートレンズから射出された略平行光束を偏向する光偏向器と、該光偏向器により偏向された光束を被走査面上に集光し該被走査面の光走査を行なう結像光学系とを備え、以下の条件式(1)を満足することを特徴とする光走査装置。(1) |Δ<SB>1</SB>×F<SB>2</SB>/F<SB>1</SB><SP>2</SP>| < 0.01ここで、Δ<SB>1</SB>=F<SB>1</SB><SP>2</SP>×{(ν<SB>1</SB>×f<SB>1</SB>)<SP>-1</SP>+(ν<SB>D</SB>×f<SB>D</SB>)<SP>-1</SP>}ただし、F<SB>1 </SB>:コリメートレンズの焦点距離F<SB>2 </SB>:結像光学系の焦点距離f<SB>1 </SB>:コリメートレンズの屈折作用による焦点距離f<SB>D </SB>:コリメートレンズの回折部の焦点距離ν<SB>1 </SB>:コリメートレンズの材料の基準波長±20nmにおけるアッベ数ν<SB>D </SB>:コリメートレンズの回折部の基準波長±20nmにおけるアッベ数
IPC (2件):
G02B 26/10 ,  B41J 2/44
FI (2件):
G02B 26/10 D ,  B41J 3/00 D
Fターム (11件):
2C362AA03 ,  2C362BA86 ,  2C362DA03 ,  2H045AA01 ,  2H045CA04 ,  2H045CA34 ,  2H045CA55 ,  2H045CA68 ,  2H045CB15 ,  2H045CB22 ,  2H045CB43
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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