特許
J-GLOBAL ID:200903063818019626

分光分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 林 敬之助
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-118466
公開番号(公開出願番号):特開2000-304612
出願日: 1999年04月26日
公開日(公表日): 2000年11月02日
要約:
【要約】【課題】 サインバーとナイフエッジの接触部分の摩擦のために、サインバーが滑らかにスライドせず、正確かつ再現性の良い測定ができない問題が起きていた。【解決手段】 分光分析装置用分光器において、サインバー3が接触しながらスライドするナイフエッジ4の辺が、回折格子の回転軸2からナイフエッジの移動方向へ下ろした垂線に対して傾き角を持つ構造とする。
請求項(抜粋):
回転駆動するネジ軸と、前記ネジ軸に固定され前記ネジ軸の回転により前記ネジ軸の軸方向に移動するナイフエッジと、片端が回折格子の回転軸に取り付けられ他端が前記ナイフエッジに接触しながらスライドするサインバーを用いた回転機構によって回転する前記回折格子により分光を行う分光分析装置において、前記サインバーが接触しながらスライドする前記ナイフエッジの辺が、前記回折格子の回転軸から前記ナイフエッジの移動方向へ下ろした垂線に対して傾き角を持つことを特徴とする分光分析装置。
Fターム (5件):
2G020CA01 ,  2G020CC02 ,  2G020CC07 ,  2G020CC42 ,  2G020CD01
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 特開昭55-043411
  • 特開昭63-206623
審査官引用 (2件)
  • 特開昭63-206623
  • 特開昭55-043411

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