特許
J-GLOBAL ID：200903063868354400
残留応力測定方法及び装置
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-318664
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146716
出願日： 1998年11月10日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：
【要約】【課題】材料表面の応力を微小硬さ計により測定される押し込み荷重-押し込み深さの応答から求める。【解決手段】残留応力を測定しようとする部材表面に押し込み荷重機構10及びエッジ状の圧子1で押し込み荷重を負荷し、そのときの押し込み荷重-押し込み深さの応答を測定する。データベース35に保存してある残留応力が既知の押し込み荷重-押し込み深さの応答と測定結果を比較することにより部材表面の応力を求める。
請求項（抜粋）：
残留応力が存在する部材表面に圧子を押し込むことにより残留応力を測定する方法において、部材表面に先端がエッジ状の圧子を用いて押し込み荷重を負荷し、このとき測定した押し込み荷重-押し込み深さの応答から残留応力を求めることを特徴とする残留応力測定方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01L 1/00 A
, G01L 1/00 G
, G01N 3/40 F
