複数粒子を多重標識して検出および評価するための方法および装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：井出正威 , 野上晃
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-525391
公開番号（公開出願番号）：特表2005-534912
出願日： 2003年07月30日
公開日（公表日）： 2005年11月17日
要約：

本発明は、試料の画像を作り出すために、画像処理ソフトウェアに接続された2k×2k画素領域のスロースキャンの冷却型電荷結合素子カメラを装備した透過型電子顕微鏡に関する。サンプル中の金粒子の区分けが、試料構造および背景ノイズからの分離によって達成される。粒子タイプの識別と分類が、検出された粒子または粒子対の形状とサイズに従って実行され、最後に、金粒子の分布が、画像内における数の表示とともに、擬似色彩をオーバーレイした画像の生成によって可視化される。

請求項（抜粋）：

試料分析において複数の粒子を多重標識して検出および評価するための方法であって、 i)少なくとも1つの画像を単一の色調で収集する工程と、 ii)色の閾値を使用して前記複数の粒子を分離する工程と、 iii)前記複数の粒子を1つまたは複数の粒子タイプに識別して分類し、粒子を多様なクラスに分ける工程と、 iv)前記複数の粒子の位置を可視化する工程と、を含む方法。

IPC (3件)：

G01N15/14 , G01N23/04 , G01N33/543

FI (4件)：

G01N15/14 K , G01N15/14 C , G01N23/04 , G01N33/543 541Z

Fターム (9件)：

2G001AA03 , 2G001BA11 , 2G001CA03 , 2G001GA06 , 2G001HA13 , 2G001JA13 , 2G001LA01 , 2G001MA04 , 2G001RA01

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