特許
J-GLOBAL ID：200903063870332391
ダイオキシン簡易分析法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川北 武長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-128012
公開番号（公開出願番号）：特開2001-305121
出願日： 2000年04月27日
公開日（公表日）： 2001年10月31日
要約：
【要約】【課題】大気、土壌、焼却灰などに含まれる全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはTEQ(毒性当量)を簡易かつ迅速に測定することができるダイオキシン簡易分析法および装置を提供する。【解決手段】(1)被検試料中のダイオキシン類およびフラン類の濃度またはTEQ(毒性等量)をガスクロマトグラフィーを用いて測定するダイオキシン分析法において、前記被検試料中から、O8CDD以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにO8CDD成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を除去した後、前記試料中に含まれるO8CDDを抽出してガスクロマトグラフィーによりその濃度を測定し、該測定値から、あらかじめ求めておいたO8CDD濃度と全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはTEQ(毒性等量)との関係に基づいて全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはTEQを算出するダイオキシン簡易分析法。
請求項（抜粋）：
被検試料中のダイオキシン類およびフラン類の濃度またはTEQ(毒性等量)をガスクロマトグラフィーを用いて測定するダイオキシン分析法において、前記被検試料中から、オクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を除去した後、前記試料中に含まれるオクタクロロジベンゾジオキシンを抽出してガスクロマトグラフィーによりその濃度を測定し、該測定値から、あらかじめ求めておいたオクタクロロジベンゾジオキシン濃度と全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはTEQ(毒性等量)との関係に基づいて全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはTEQ(毒性等量)を算出することを特徴とするダイオキシン簡易分析法。
IPC (4件)：
G01N 30/88
, G01N 1/36
, G01N 30/00
, G01N 33/00
G01N 30/88 C
, G01N 30/00 C
, G01N 33/00 D
, G01N 1/28 Z
