磁気共鳴断層撮影装置の作動方法および制御装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山口巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-355743
公開番号（公開出願番号）：特開2005-169119
出願日： 2004年12月08日
公開日（公表日）： 2005年06月30日
要約：

【課題】できるだけ確実にかつ簡単に、検査中に磁気共鳴断層撮影装置の充分に完全自動化され且つ何時でも再現可能な制御を可能にする。【解決手段】診断上の課題設定に応じて検査すべき検査対象のために可変であるジオメトリを有する解剖学的標準モデルMを選択し、検査対象を含む領域の複数の概観画像を測定し、その概観画像の測定を制御するための種々の概観スキャンパラメータUPを、選択された解剖学的標準モデルMに応じて決定し、測定された概観画像の断層画像データUD内の目標構造を求め、求められた目標構造Zにマッチングするように標準モデルMを個別化し、選択された解剖学的標準モデルMおよび診断上の課題設定に応じて後続の断層画像を測定するために磁気共鳴断層撮影装置1を制御するためのスキャンパラメータSPを選択し、選択されたスキャンパラメータSPを、個別化された解剖学的標準モデルMに対応して個別化し、個別化されたスキャンパラメータISPに基づいて複数の断層画像を測定する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

診断上の課題設定に応じて検査すべき検査対象のために可変であるジオメトリを有する解剖学的標準モデル(M)を選択し、検査対象を含む領域の複数の概観画像を測定し、その概観画像の測定を制御するための種々の概観スキャンパラメータ(UP)を、選択された解剖学的標準モデル(M)に応じて決定し、測定された概観画像の断層画像データ(UD)内の目標構造を求め、求められた目標構造(Z)にマッチングするように標準モデル(M)を個別化し、選択された解剖学的標準モデル(M)および診断上の課題設定に応じて後続の断層画像を測定するために磁気共鳴断層撮影装置(1)を制御するためのスキャンパラメータ(SP)を選択し、選択されたスキャンパラメータ(SP)を、個別化された解剖学的標準モデル(M)に対応して個別化し、個別化されたスキャンパラメータ(ISP)に基づいて複数の断層画像を測定することを特徴とする磁気共鳴断層撮影装置の作動方法。

IPC (1件)：

A61B5/055

FI (1件)：

A61B5/05 370

Fターム (10件)：

4C096AB38 , 4C096AD02 , 4C096AD07 , 4C096AD14 , 4C096BB32 , 4C096DC15 , 4C096DC16 , 4C096DC19 , 4C096DC21 , 4C096DC36

引用特許：

出願人引用 (12件)

独国特許出願公開第10160075号明細書
米国特許出願公開第2002/0198447号明細書
米国特許第6529762号明細書

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