特許

J-GLOBAL ID：200903063884044208

光学式マーカーを用いた三次元測定データ自動整列装置及びその方法

発明者： チャン ミンホー
出願人/特許権者： ソリューショニックス コーポレーション
代理人 (2件)： 川▲崎▼ 研二 ,  松本 隆
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-524349
公開番号（公開出願番号）：特表2005-534026
出願日： 2003年06月03日
公開日（公表日）： 2005年11月10日
要約：

本発明は、光学的に生成することができる非接触式のマーカーを利用し、測定対象物の測定部位を損失しない状態で、ぞれぞれ異なる角度で測定された三次元データを自動的に整列させることを可能にさせた光学式マーカーを用いた三次元測定データ自動整列装置及び方法を提供する。このための本発明は、所定の測定対象物から様々な角度で撮影して獲得された三次元測定データを整列する三次元データ測定装置において、複数の光学的なマーカーを前記測定対象物の表面に投影する光学式マーカー発生手段と;前記測定対象物に対する三次元測定のために測定対象物の表面に模様パターンを投影する三次元投影手段;前記測定対象物から光学式マーカー発生手段によって投影されたマーカーを含める二次元映像を獲得すると共に、前記三次元投影手段によって投影される測定対象物の三次元測定データを獲得する映像獲得手段及び;前記映像獲得手段によって獲得された二次元映像と三次元測定データとの関係からマーカーの三次元の位置を抽出し、各三次元測定データによるマーカーの位置から三次元測定データの相対的な位置を探す演算を行う制御手段で構成されたことを特徴とする光学式マーカーを用いた三次元測定データ自動整列装置を提供する。

請求項（抜粋）：

所定の測定対象物から様々な角度で撮影して獲得された三次元測定データを整列する三次元データ測定装置において、 複数の光学的なマーカーを前記測定対象物の表面に投影する光学式マーカー発生手段と; 前記測定対象物に対する三次元の測定のため、測定対象物の表面に模様パターンを投影する三次元投影手段; 前記測定対象物から光学式マーカー発生手段によって投影されたマーカーを含む二次元映像を獲得すると共に、前記三次元投影手段によって投影される測定対象物の三次元測定データを獲得する映像獲得手段;及び、 前記の映像獲得手段によって獲得された前記二次元映像と前記三次元測定データとの関係からマーカーの三次元の位置を抽出し、前記マーカーの三次元の位置から前記三次元測定データの相対的な位置を探す演算を行う制御手段; から構成されていることを特徴とする光学式マーカーを用いた三次元測定データ自動整列装置。

IPC (4件)：

G01B11/00 ,  G01B11/24 ,  G01B11/245 ,  G01B11/25

FI (4件)：

G01B11/00 H ,  G01B11/24 E ,  G01B11/24 K ,  G01B11/24 N

Fターム (22件)：

2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB29 ,  2F065DD06 ,  2F065EE00 ,  2F065FF05 ,  2F065FF06 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ07 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP01 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ41

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 3次元測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-213790   出願人：ミノルタ株式会社