特許
J-GLOBAL ID：200903063887649542
イオン分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-201737
公開番号（公開出願番号）：特開2000-035420
出願日： 1998年07月16日
公開日（公表日）： 2000年02月02日
要約：
【要約】【課題】 Cl-イオンの濃縮量が高くなっても測定可能で、応答性よく長時間にわたって連続して測定することが可能なイオン測定装置を提供する。【解決手段】 サンプルに含まれる分析成分を濃縮カラムに濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液で分離カラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離し、この分離カラムからのイオン種の成分を分析するイオン分析装置において、前記濃縮カラムの前段にOHイオンを除去するための手段を設けた。
請求項（抜粋）：
サンプルに含まれる分析成分を濃縮カラムに濃縮させ、その濃縮された分析成分を溶離液で分離カラムに搬送して目的成分の電荷イオン種を分離し、この分離カラムからのイオン種の成分を分析するイオン分析装置において、前記濃縮カラムの前段にOHイオンを除去するための手段を設けたことを特徴とするイオン分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 30/14 A
, G01N 30/08 L
