特許
J-GLOBAL ID:200903063909140045

電子制御装置の機能検査方法および機能検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-074050
公開番号(公開出願番号):特開2004-279337
出願日: 2003年03月18日
公開日(公表日): 2004年10月07日
要約:
【課題】実装検査の検査範囲を狭くし、実装検査にかかる工数を減らす。【解決手段】制御用マイクロプロセッサによって制御される電子制御装置に実装された回路素子群の機能検査を行う機能検査方法であって、経時的に変化する波形信号を回路素子群に入力する入力工程と、回路素子群の前記波形信号に対する応答波形信号に基づいて得られる応答曲線が予め定められた検査基準範囲内にあるか否かを判定する判定工程とを含む。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
制御用マイクロプロセッサによって制御される電子制御装置に実装された回路素子群の機能検査を行う機能検査方法であって、 経時的に変化する波形信号を回路素子群に入力する入力工程と、 回路素子群の前記波形信号に対する応答波形信号に基づいて得られる応答曲線が予め定められた検査基準範囲内にあるか否かを判定する判定工程とを含むことを特徴とする機能検査方法。
IPC (2件):
G01R31/319 ,  G01R31/3183
FI (3件):
G01R31/28 R ,  G01R31/28 Q ,  G01M17/00 K
Fターム (6件):
2G132AA20 ,  2G132AD02 ,  2G132AD15 ,  2G132AG01 ,  2G132AH03 ,  2G132AL05
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開昭62-198937
  • 特開昭62-198937
  • 特開平4-213079
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