特許

J-GLOBAL ID：200903063982448120

画像処理粒度分析計及びその二値化レベル設定方法

発明者： 増田 吉通
出願人/特許権者： 日機装株式会社
代理人 (1件)： 越川 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-126010
公開番号（公開出願番号）：特開2000-314698
出願日： 1999年05月06日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
要約：

【要約】【課題】粒子群の粒度分布測定時の二値化レベルを自動設定できて、粒度分布測定のオンライン化への対応を容易に行い得る画像処理粒度分析計及びその二値化レベル設定方法を提供する。【解決手段】測定空間内を移動する粒子群をイメージセンサカメラで撮像し、その撮像データを二値化処理して粒子群の粒度分布を測定する画像処理粒度分析計において、イメージセンサカメラで撮像した標準サンプルの撮像データから各二値化レベルに対応した粒子数をそれぞれ計数する粒子数計数手段と、該粒子数計数手段で計数した粒子数の計数値が変化しない二値化レベルの不変範囲を検出する不変範囲検出手段と、該不変範囲検出手段で検出した不変範囲の二値化レベルで標準サンプルの粒度分布を複数回計測することによって、粒子群の撮像データを二値化処理する際の適切なスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、を備える。

請求項（抜粋）：

測定空間内を移動する粒子群をイメージセンサカメラで撮像し、その撮像データを二値化処理して粒子群の粒度分布を測定する画像処理粒度分析計において、前記イメージセンサカメラで撮像した標準サンプルの撮像データから各二値化レベルに対応した粒子数をそれぞれ計数する粒子数計数手段と、該粒子数計数手段で計数した粒子数の計数値が変化しない二値化レベルの不変範囲を検出する不変範囲検出手段と、該不変範囲検出手段で検出した不変範囲の二値化レベルで標準サンプルの粒度分布を複数回計測することによって、前記粒子群の撮像データを二値化処理する際の適切なスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、を備えることを特徴とする画像処理粒度分析計。