特許

J-GLOBAL ID：200903064005549209

増分位置検出器の可動周期目盛盤の絶対位置測定方法及びその装置

発明者： フリッツ ライナー ケッツ
出願人/特許権者： バウミューラー ニュールンベルグ ジーエムビーエッチ
代理人 (1件)： 杉本 丈夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-218628
公開番号（公開出願番号）：特開平7-174586
出願日： 1994年09月13日
公開日（公表日）： 1995年07月14日
要約：

【要約】【目的】 増分位置検出器による位置検出精度をより高精度なものにする。【構成】 増分位置検出器の可動周期目盛盤の絶対位置値を測定する方法であって、目盛盤に向かって固定された2つの走査要素があり、前記走査要素は、位置検出のために逆タンジェント関数に基づき解析される2つのサインおよびコサインに似た測定信号を発信するように、セグメントの長さないしは周囲を基準とする間隔を互いに維持して配置されており、位置検出器における干渉や不正確さに対して解析値を補正するため、測定プロセスを識別する1つのパラメータベクトルないしはベクトル成分が使用され、そのパラメータベクトルは、測定動作が進行中、予め決められている最適化基準に従って常時更新される。

請求項（抜粋）：

目盛盤(1)の上の目盛(2)によって周期性をもって形成され、および/または、仕切られている増分位置検出器のピッチセグメント群の1つの内部において、および/または、そのピッチセグメント群の1つを基準として、増分位置検出器またはシンクロ/リゾルバーの可動周期目盛盤(1)の絶対位置値(α)を測定するための方法であって、目盛盤(1)に向かって位置が固定されて設けられ、そして、目盛(2)に応答する2つの走査要素(4)があり、それらの走査要素(4)は、絶対位置(α)の検出のために、逆タンジェント関数に基づき解析される2つのサインおよびコサインに似た測定信号(x、y)を発信するように、セグメント(3)の長さないしは周囲を基準とする間隔を互いに維持して配置されているような構造の位置検出器において、当該位置検出器における干渉や不正確さに対して解析値を補正するために、測定プロセスを識別する1つのパラメータベクトルないしアダプティブ測定信号(X0、Y0、Xc、Yc、Xd、Yd)の数値ないしはベクトル成分が使用され、そのパラメータベクトルは、測定動作が進行中予め決められた最適化基準に従って常時新しく決められることを特徴とする増分位置検出器の可動周期目盛盤の絶対位置測定法。

IPC (3件)：

G01D 5/245 102 ,  G01D 5/245 ,  G01D 5/245 101