特許
J-GLOBAL ID：200903064016978586
粒度分布・密度分布同時測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西田 新
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-165860
公開番号（公開出願番号）：特開平9-015133
出願日： 1995年06月30日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：
【要約】【目的】 被測定粒子群の粒度分布と、その粒度分布の各粒子径区間ごとの密度である密度分布とを、同時に測定することのできる装置を提供する。【構成】 試料セル1中の試料懸濁液に対し、液面から一定位置にレーザ光を照射して得られる回折/散乱光強度分布を、被測定試料群Wの均一分散状態から沈降過程を通じて刻々と測定して粒度分布に換算し、各粒子径区間の相対粒子量が0になるまでに要した時間をストークスの沈降式に適用して、各粒子径区間の粒子群の密度を算出する。
請求項（抜粋）：
被測定粒子群を媒液中に分散させてなる懸濁液を収容する試料セルと、この試料セル中の懸濁液に対し、その液面から所定の距離の位置にレーザ光を照射するレーザ光照射光学系と、そのレーザ光の照射によって得られる回折/散乱光の空間強度分布を測定する回折/散乱光強度分布測定光学系と、被測定粒子群が試料セル内の媒液中で均一に分散している状態から沈降していく過程で刻々と採取される回折/散乱光強度分布測定データを用いて、あらかじめ設定された粒子径区間ごとの相対粒子量からなる被測定粒子群の刻々の粒度分布を算出する粒度分布算出手段と、その刻々の粒度分布算出結果から、各粒子径区間ごとに、その区間内の粒子が存在しない状態となるまでの時間を求めるとともに、その時間をストークスの沈降式に適用して、各粒子径区間内の粒子群の密度を算出する密度分布算出手段を備えてなる、粒度分布・密度分布同時測定装置。
引用特許：
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