特許
J-GLOBAL ID:200903064030867673

X線マスクの製造方法及びそれにより得られたX線マスク

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 田澤 博昭 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-189677
公開番号(公開出願番号):特開平8-054726
出願日: 1994年08月11日
公開日(公表日): 1996年02月27日
要約:
【要約】【目的】 緻密で平滑性のよいX線吸収体を有するX線マスクの製造方法及びそれにより得られたX線マスクを提供する。【構成】 薄厚の基板31の平滑な面に非晶質または微結晶のいずれかからなるX線吸収体21を形成する吸収体形成工程と、X線吸収体21上にダイヤモンド膜22を成膜するダイヤモンド成膜工程と、基板31を除去する基板除去工程と、X線吸収体21に所定のパターンを形成するパターン形成工程とを備えたことを特徴とする。
請求項(抜粋):
薄厚の基板の平滑な面に非晶質または微結晶のいずれかからなるX線吸収体を形成する吸収体形成工程と、該X線吸収体上にダイヤモンド膜を成膜するダイヤモンド成膜工程と、前記基板を除去する基板除去工程と、前記X線吸収体に所定のパターンを形成するパターン形成工程とを備えたことを特徴とするX線マスクの製造方法。
IPC (4件):
G03F 1/08 ,  C01B 31/06 ,  C30B 29/04 ,  H01L 21/027
FI (2件):
H01L 21/30 531 M ,  H01L 21/30 541 K
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平2-051216

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