特許
J-GLOBAL ID：200903064037116240
実装基板の外観検査装置および外観検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-038389
公開番号（公開出願番号）：特開平11-237213
出願日： 1998年02月20日
公開日（公表日）： 1999年08月31日
要約：
【要約】【課題】 有用性のない不良項目が省略され、整理された検査結果が出力される実装基板の外観検査装置および外観検査方法を提供する。【解決手段】 電子部品の有無や位置ずれを対象とする第1の判定手段と、電子部品の半田付け部の不良を対象とする第2の判定手段を含む複数の判定手段により実装基板を検査して各判定対象について良否の判定を行う実装基板の外観検査方法において、複数の判定手段の判定結果を第1の記憶部41に記憶させ、記憶された判定結果を検査結果処理部44により不良内容の重大性、不良表示の有用性に基づいて予め設定されるランク付けに従って取捨選択し、有用な検査結果のみ出力するようにした。
請求項（抜粋）：
実装基板に実装された電子部品の有無や位置ずれを主な判定対象とする第1の判定手段と、電子部品を実装基板に接合する半田付け部の不良を主な判定対象とする第2の判定手段と、第1の判定手段、第2の判定手段の判定結果を記憶する第1の記憶部と、判定対象の不良内容の重大性に基づいて設定されるランク付けデータを記憶する第2の記憶部と、このランク付けデータに基づいて第1の記憶部に記憶された判定結果を処理する検査結果処理部と、この検査結果を出力する出力手段を備えたことを特徴とする実装基板の外観検査装置。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G01B 11/24
, H05K 3/00
G01B 11/00 H
, G01B 11/24 H
, G01B 11/24 C
, H05K 3/00 V
