特許
J-GLOBAL ID：200903064048858639
光ディスクの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
梶山 佶是 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-102111
公開番号（公開出願番号）：特開平5-274675
出願日： 1992年03月27日
公開日（公表日）： 1993年10月22日
要約：
【要約】【目的】 相変化記録方式の光ディスクにおいて、相変化媒体の品質を劣化することなく、複数回テストできる検査方法を提供する。【構成】 繰り返されるデータの書込みごとに、テストデータの位置をランダムにシフトして、相変化媒体の異なる部分に対して書込みする。これを読み出して、元のテストデータと比較して変化媒体を検査する。【効果】 テストデータの書込み位置が、テストの都度ランダムに変化するため、書込み、読み出しおよび消去を繰り返しても媒体が劣化しない。
請求項（抜粋）：
相変化記録方式の光ディスクのデータ部に対して、データマークを先頭とするテストデータの書込み、読み出しおよび消去を繰り返して行い、相変化媒体の性能を検査する検査装置において、前記繰り返される書込みごとに、前記テストデータの位置をランダムにシフトして、前記相変化媒体の異なる部分に対する書込みを行い、該書込みされたテストデータを読み出し、該読み出されたデータマークにより書込み前の元のテストデータを発生し、該発生した元のテストデータと前記読み出されたテストデータとを比較して、前記相変化媒体を検査することを特徴とする、光ディスクの検査方法。
IPC (2件)：
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