特許

J-GLOBAL ID：200903064050555643

X線検査装置およびX線検査方法

発明者： 筒井 博司 ,  大土 哲郎
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-269811
公開番号（公開出願番号）：特開平6-118029
出願日： 1992年10月08日
公開日（公表日）： 1994年04月28日
要約：

【要約】【目的】X線検査に際して被写体に配線などが重なり合っている場合などにも、それらを区別して特定構成物や欠陥部の非破壊検査を容易に行う。【構成】被写体4の理想的なX線透過強度を予め計算により算出し、これを記憶するメモリを画像処理部6に設け、画像処理部6において、X線発生器1とX線検出器2を用いて実際にX線を被写体4に照射して測定を行ったX線透過画像と、無欠陥計算画像または除去計算画像とを画像比較または差分することにより、被写体4の欠陥部分のみの画像データや、特定の構造物のみからなる画像データが容易に得られ、配線などが重なり合っている場合などにもそれを容易に区別可能となる。

請求項（抜粋）：

計算により求めた、欠陥の無い場合の被写体のX線照射に対する透過画像データである無欠陥計算画像データと、実際に被写体にX線を透過させて得たX線透過画像データとを用いて、前記無欠陥計算画像データとX線透過画像データを比較または差分することにより、被写体の欠陥部分のみの画像データを得るX線検査方法。

IPC (5件)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/00 ,  G01T 1/00 ,  G01T 1/24 ,  H05K 3/46

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-137548
  
• 特開平2-132353
  
• 特開平2-138855