特許

J-GLOBAL ID：200903064060533834

X線診断装置

発明者： 上田 尚樹 ,  井桁 嘉一
出願人/特許権者： 株式会社日立メディコ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-172807
公開番号（公開出願番号）：特開平9-327452
出願日： 1996年06月13日
公開日（公表日）： 1997年12月22日
要約：

【要約】【課題】X線管1からのX線1cの被検体透過像を検出するX線像検出器2からの画像信号を画像処理装置で処理してモニタ3でその処理画像を表示するX線診断装置において、カテーテル8の先端8aの位置を容易に知ることができ、超音波診断装置を併用する検査手法において、超音波診断装置の探触子を接触させる部位を容易に判断可能とする。【解決手段】画像処理装置に、X線像検出器2で検出されたX線像からカテーテル先端位置を求める手段を設け、その画像処理装置9で求められたカテーテル先端位置に向けて光114を投射する投光手段10,11を設ける。

請求項（抜粋）：

X線を発生するX線管と、このX線管からのX線の被検体透過像を検出するX線像検出器と、このX線像検出器からの画像信号を処理する画像処理装置と、この画像処理装置による処理画像を表示するモニタとを備えてなるX線診断装置において、前記画像処理装置は前記X線像検出器で検出されたX線像からカテーテル先端位置を求める手段を有し、その画像処理装置で求められたカテーテル先端位置に向けて光を投射する投光手段を具備することを特徴とするX線診断装置。

IPC (3件)：

A61B 6/00 370 ,  A61B 6/12 ,  A61B 8/12

FI (3件)：

A61B 6/00 370 ,  A61B 6/12 ,  A61B 8/12