特許
J-GLOBAL ID：200903064086501485
管内形状検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-174017
公開番号（公開出願番号）：特開平7-027551
出願日： 1993年07月14日
公開日（公表日）： 1995年01月27日
要約：
【要約】【目的】 管体5の内周面に露出している溶接部6の形状(ビート形状)を外周面から超音波を用いて制度よく測定する。【構成】 管体5の外周面上における溶接部6を挟んだ対向位置に内周面に露出した溶接部方向へ超音波パルスを送波し反射波を受波する一対の斜角探触子7a,7bを配設し、一対の超音波送受信部9a,9bで各斜角探触子に対して一定周期で送信パルスを印加しかつエコー信号を受信し、受信された各エコー信号を同期加算平均化手段10a,10bで複数周期に亘って平均化し、平均化されたエコー信号における互いに異なる測定期間をゲート手段11a〜11dで指定し、指定された測定期間に含まれる内周面の溶接部に起因するエコーをエコー検出手段12a〜12dで検出する。そして、検出され各エコーに基づいて内周面の溶接形状を内面形状特定部13で特定する。
請求項（抜粋）：
管体の外周面上における溶接部を挟んだ対向位置に配設され、内周面に露出した溶接部方向へ超音波パルスを送波し反射波を受波する一対の斜角探触子と、この各斜角探触子に対して一定周期で送信パルスを印加しかつエコー信号を受信する一対の超音波送受信部と、この受信されたエコー信号を複数周期に亘って平均化する一対の同期加算平均化手段と、この平均化されたエコー信号における互いに異なる測定期間を指定する複数のゲート手段と、この指定された測定期間に含まれる前記内周面の溶接部に起因するエコーを検出する複数のエコー検出手段と、この検出され各エコーに基づいて内周面の溶接形状を特定する内面形状特定部とを備えた管内形状検査装置。
IPC (2件)：
G01B 17/00
, G01N 29/10 505
