特許
J-GLOBAL ID：200903064151010800
結晶評価装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
山本 寿武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-176435
公開番号（公開出願番号）：特開2004-020397
出願日： 2002年06月17日
公開日（公表日）： 2004年01月22日
要約：
【課題】多くの結晶試料に対するX線回折測定を迅速に処理できるようにするとともに、高い信頼性をもった結晶構造の解析・評価を実現する。【解決手段】結晶試料が収容されたX線透過性を有する試料ホルダ40をほぼ水平配置可能な試料ステージ10と、この試料ステージ10上に配置された試料ホルダ40内の結晶試料に対し、上方又は下方からX線を照射するX線照射ユニット20と、結晶試料からの回折X線を検出するX線検出器30とを備える。X線照射ユニット20及びX線検出器30は、ともに回転アーム50に固定する。そして、回転アーム50を回転駆動機構51によりほぼ水平な軸中心に任意の角度回転可能とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
結晶試料が収容されたX線透過性を有する試料ホルダをほぼ水平配置可能であってかつX線が透過する試料配置部を形成する試料ステージと、
この試料配置部に配置された試料ホルダ内の結晶試料に対し、上方又は下方からX線を照射するX線照射手段と、
前記試料ホルダを介して前記X線照射手段と対向配置され、前記試料ホルダを透過してきた前記結晶試料からの回折X線を検出するX線検出手段と、を含み、
さらに、前記X線照射手段及びX線検出手段がともに回転アームに固定され、かつ回転アームをほぼ水平な軸中心に任意の角度回転させる回転駆動機構を備えたことを特徴とする結晶評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA09
, 2G001EA09
, 2G001HA09
, 2G001JA06
, 2G001KA08
, 2G001LA01
, 2G001MA02
, 2G001NA19
, 2G001PA06
, 2G001PA11
, 2G001PA14
, 2G001QA02
, 2G001QA10
