特許

J-GLOBAL ID：200903064183893002

電気機器の寿命試験装置、およびそのためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

発明者： 平本 裕行 ,  関谷 洋紀 ,  清水 敏夫 ,  松本 寿彰
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-315707
公開番号（公開出願番号）：特開2002-122629
出願日： 2000年10月16日
公開日（公表日）： 2002年04月26日
要約：

【要約】【課題】 電気機器あるいは絶縁材料など寿命特性を容易に、かつ、短時間で計測することのできる寿命試験装置を提供する。【解決手段】 試料に対して次第に上昇する電圧を印加する制御板1と変圧器3と、印加された電圧を計測する電圧計5と、試料が絶縁破壊に至るまでの時間を計測し、その時間と、それまでに印加された電圧から下記(1)式に示される寿命特性式中の寿命係数nおよび定数Aを求め、寿命特性式を完成するコンピュータ21と、t=A×V-n ...(1)(ただし、式中、tは寿命時間、Vは電圧、nは寿命係数、Aは定数である)を有することを特徴とする寿命試験装置。

請求項（抜粋）：

試料に対して次第に上昇する電圧を印加する電圧印加手段と、前記電圧印加手段により印加された電圧を検出する電圧値計測手段と、前記試料が絶縁破壊に至ったことを検出する絶縁破壊検出手段と、前記電圧印加手段が、前記試料に対し、電圧を印加し始めてから、前記絶縁破壊検出手段が、前記試料が絶縁破壊に至ったことを検出した時点までの時間を計時する計時手段と、前記計時手段が計時した時間と、前記絶縁破壊に至るまでに前記電圧計測手段が計測した電圧値から下記(1)式に示される寿命特性式中の寿命係数nおよび定数Aを求め、寿命特性式を完成する演算手段と、t=A×V-n ...(1)(ただし、式中、tは寿命時間、Vは電圧、nは寿命係数、Aは定数である)を有することを特徴とする電気機器の寿命試験装置。

Fターム (4件)：

2G015AA01 ,  2G015BA08 ,  2G015CA05 ,  2G015CA20

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開昭60-056268