特許
J-GLOBAL ID：200903064233320297
基板検査方法及び基板検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
岩橋 文雄
, 坂口 智康
, 内藤 浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-372829
公開番号（公開出願番号）：特開2006-179756
出願日： 2004年12月24日
公開日（公表日）： 2006年07月06日
要約：
【課題】検査データ自動作成方法において、基板設計情報と部品位置情報との座標系原点が異なる場合、部品位置情報もしくは基板設計情報を手動修正する為に修正時間が掛る。【解決手段】部品実装情報と基板設計情報に基づく位置合せを行う基板検査方法において、該基板設計情報または部品実装情報より得られる各々の部品の位置情報から全部品の部品代表座標を算出し、その基板設計情報より得られる各々のランド領域を抽出してランド領域の位置情報を取得して全ランドの代表座標を算出し、該部品代表座標とランド代表座標との差であるオフセットを算出し、当該オフセットに基づき当該部品代表座標とランド代表座標を一致させて部品の位置合せを行う。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
部品実装情報と基板設計情報に基づく位置合せを行う基板検査方法において、
前記基板設計情報または部品実装情報より得られる各々の部品の位置情報から全部品の部品代表座標を算出し、
前記基板設計情報より得られる各々のランド領域を抽出してランド領域の位置情報を取得して全ランドの代表座標を算出し、
前記部品代表座標と前記ランド代表座標との差であるオフセットを算出し、
当該オフセットに基づき前記部品代表座標と前記ランド代表座標を一致させて部品の位置合せを行うことを特徴とする基板検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (2件)
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教示データ作成方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平3-214359
出願人：オムロン株式会社
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基板の部品実装検査方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平5-193330
出願人：株式会社テスコン
審査官引用 (5件)
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