特許

J-GLOBAL ID：200903064260877996

電子部品からの有用金属の回収方法および装置

発明者： 藤田 豊久 ,  バラチャンドラン ジャヤデワン ,  葛野 栄一 ,  高橋 國彦
出願人/特許権者： 横浜金属株式会社
代理人 (1件)： 中村 稔 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-083148
公開番号（公開出願番号）：特開2000-271507
出願日： 1999年03月26日
公開日（公表日）： 2000年10月03日
要約：

【要約】【課題】 エネルギーの消費が少なくかつ環境汚染の問題も生じにくい簡易な工程を採用することにより、効率的にかつ高い収率をもって、電子部品から有用金属を回収することが可能な方法を提供する。【解決手段】(1)有用金属を含有する電子部品を破砕して得られる粉末を、流体中に懸濁させる工程、(2)粉末を懸濁させた流体を、磁場印加領域を少なくとも3回通過するように循環させる工程、および(3)磁場印加領域において磁着した粉末を回収する工程を含む、電子部品からの有用金属の回収方法。

請求項（抜粋）：

(1)有用金属を含有する電子部品を破砕して得られる粉末を流体中に懸濁させる工程、(2)粉末を懸濁させた流体を、磁場印加領域を少なくとも3回通過するように循環させる工程、および(3)磁場印加領域において磁着した粉末を回収する工程を含む、電子部品からの有用金属の回収方法。

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開昭60-077940