特許

J-GLOBAL ID：200903064314891302

ドットパターン検査装置

発明者： 鈴木 規之 ,  小林 彰 ,  横山 晴彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-018797
公開番号（公開出願番号）：特開平6-227098
出願日： 1993年02月05日
公開日（公表日）： 1994年08月16日
要約：

【要約】【目的】 照明むらがあったり、ドット位置にばらつきがあっても、特殊なハードウェアを使用することなく、高速にて確実に検査を行う。【構成】 1つのドットに該当する画像データを1画素の明るさデータに情報圧縮して圧縮画像データドットパターンを生成する画像データ切出圧縮部1と、圧縮画像データドットパターンについて注目ドットに対して隣接する8ドットの明るさを予め登録されているドットパターンと比較し明るさの差を判定する8近傍ドット正誤判定部5とを備え、ドット正誤判定部5は、予め登録されているドットパターンにおいて注目ドットと比較対象の隣接ドットが同種である場合に同種ドット判定部6にて、注目ドットと比較対象の隣接ドットが異種である場合の異種ドット判定部7にてドット正誤判定を行うように構成した。

請求項（抜粋）：

検査対象の画像データにおける1つのドットに該当する画像データを1画素の明るさデータに情報圧縮して圧縮画像データドットパターンを生成する手段と、圧縮画像データドットパターンについて注目ドットに対して隣接する8ドットの明るさを予め登録されているドットパターンと比較し明るさの差を判定してドットの正誤判定を行う手段と、ドット正誤判定手段を検査パターン全体について走査する手段とを備え、ドット正誤判定手段は、予め登録されているドットパターンにおいて注目ドットと比較対象の隣接ドットが同種である場合の判定閾値と、注目ドットと比較対象の隣接ドットが異種である場合の判定閾値にてドット正誤判定を行うように構成したことを特徴とするドットパターン検査装置。

IPC (5件)：

B41J 29/46 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/62 410 ,  G09G 3/20 ,  G09G 5/00

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭60-085175
  
• 特開昭48-006147