特許
J-GLOBAL ID:200903064370052372
X線画像を形成するX線検査装置及び方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
伊東 忠彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-121314
公開番号(公開出願番号):特開2002-022844
出願日: 2001年04月19日
公開日(公表日): 2002年01月23日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】一連の画像生成及び処理における撮像欠陥を自動的に補正し、X線画像を形成するX線検査装置及び方法を提供する。【解決手段】撮像欠陥の自動補正を実現するために、臨床検査中に捕捉される画像データから抽出される画像パラメータに基づいて画像欠陥を検出する欠陥検出ユニット3と、画像データを補正する処理ユニット2から構成される。とりわけX線検出器の欠陥のあるセンサ素子又はピクセルによって生じる画像欠陥の検出に対して、閾値に依存して欠陥のあるセンサ素子に対して欠陥テーブルを形成するフィルタユニットが設けられ、このような欠陥テーブルに基づいて画像データに適用されるよう処理ユニット2において補正テーブル20が形成される。
請求項(抜粋):
X線源と、X線を電荷に変換するセンサ素子を含むX線検出器と、画像データを補正する処理ユニットと、臨床検査中に発生する画像データから抽出され得る画像パラメータに基づいて検出される画像欠陥を検出し、上記検出された画像欠陥に依存して上記処理ユニットにおいて使用される処理パラメータに適合するのに好適な欠陥検出ユニットとを有するX線検査装置であって、とりわけ欠陥のあるセンサ素子によって生じられる画像欠陥の検出に対して上記欠陥検出ユニットは、上記画像データをフィルタ処理するフィルタユニット、上記フィルタ処理された画像データを平均化するユニット、及び、閾値に依存して上記センサ素子に対して欠陥テーブルを形成するために上記フィルタ処理され平均化された画像データを上記閾値と比較する比較ユニットを有することを特徴とするX線検査装置。
IPC (5件):
G01T 1/24
, A61B 6/00
, A61B 6/00 300
, G06T 1/00 400
, G06T 1/00 460
FI (5件):
G01T 1/24
, A61B 6/00 300 M
, G06T 1/00 400 B
, G06T 1/00 460 E
, A61B 6/00 350 Z
Fターム (20件):
2G088EE01
, 2G088FF02
, 2G088GG21
, 2G088JJ05
, 2G088LL15
, 4C093AA16
, 4C093CA50
, 4C093EB12
, 4C093EB13
, 4C093EB17
, 4C093FC19
, 4C093FD05
, 4C093FD09
, 5B047AA17
, 5B047AA30
, 5B047AB02
, 5B047BA02
, 5B047DA03
, 5B047DA06
, 5B047DC04
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