特許
J-GLOBAL ID：200903064400059598
X線応力測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
猪股 祥晃
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-248009
公開番号（公開出願番号）：特開平6-102103
出願日： 1992年09月17日
公開日（公表日）： 1994年04月15日
要約：
【要約】【目的】中性子照射を受けた材料表面に残留応力を精度よく測定する。【構成】被測定物3に対して入射X線2を出射するX線管1と、被測定物3からのγ線6を遮蔽する遮蔽体10と、被測定物3からの1次回折X線13を分離し単色化するモノクロメータ11と、モノクロメータ11で分離された2次回折X線14を検出する検出X線にエネルギー依存性を有する比例計数管12の検出器とからなっている。被測定物3は中性子照射された材料である。
請求項（抜粋）：
X線管と、このX線管からの入射X線を中性子照射された被測定物に入射し該被測定物からのバックグランドノイズを遮蔽する遮蔽体と、前記被測定物からの1次回折X線の連続X線と特性X線とを分離し単色化するモノクロメータと、このモノクロメータから反射して得られた2次回折X線を検出するX線にエネルギー依存性を有する比例計数管検出器とを具備したことを特徴とするX線応力測定装置。
IPC (3件)：
G01L 1/00
, G01L 1/25
, G01N 23/207
