特許
J-GLOBAL ID：200903064413447775
走査プローブ顕微鏡による固体微粒子の観察方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-285449
公開番号（公開出願番号）：特開2001-108596
出願日： 1999年10月06日
公開日（公表日）： 2001年04月20日
要約：
【要約】【課題】 粉末のような微粒子の形態および分散状態を観察することができる走査プローブ顕微鏡による観察方法を提供する。【解決手段】 固体微粒子を分散媒中に分散させ、分散媒内の電極間に直流電界を印加し、固体微粒子を電気泳動により電極の一方に固着させて観察する。
請求項（抜粋）：
固体微粒子を分散媒中に分散させ、該分散媒内の電極間に直流電界を印加し、該固体微粒子を電気泳動により該電極の一方に固着させて観察することを特徴とする走査プローブ顕微鏡による固体微粒子の観察方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 13/10 D
, G01N 13/16 A
