特許
J-GLOBAL ID：200903064417604352
プリント基板の検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三枝 弘明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-257614
公開番号（公開出願番号）：特開平7-092190
出願日： 1993年09月21日
公開日（公表日）： 1995年04月07日
要約：
【要約】【目的】 検査部を簡素化して作業性を向上させるとともに、複雑且つ高精度な搬送・位置決め機構を不要とする。【構成】 基板測定部ではベルトコンベアの上下に配設された撮像カメラ7で撮影されたプリント基板Pの表裏画像により、一対の測定用スルーホール間の位置関係と一対の測定用パターン間の位置関係に基づくホールの穿設位置に対するパターンの位置ずれ量を求め、このずれ量に応じて上部検査ヘッド22と下部検査ヘッド23の位置を修整する。測定の完了したプリント基板Pはベルトコンベアの検査位置まで搬送され、搬送ベルト上から案内板24の上に移載され、案内板24の案内ピンがプリント基板Pの基板案内孔に嵌合する。案内板24は下降して下部検査ヘッド23上にそのプローブを貫通させた状態で接触し、次に上部検査ヘッド22が下降してプリント基板Pの表裏両面を検査する。
請求項（抜粋）：
プリント基板の表面画像を入力してプリント基板の測定を行うための基板測定部と、プリント基板の回路パターンを電気的に検査するための基板検査部と、基板測定部から基板検査部までプリント基板を搬送する搬送手段とを有するプリント基板の検査装置において、前記基板測定部において前記回路パターンの位置ずれ量を測定するパターンずれ測定手段と、前記基板検査部に配置されたプリント基板に対し位置調整可能に取付けられた検査ヘッドとを有し、前記パターンずれ測定手段は、前記プリント基板に穿設された基板案内孔又はこれと所定の位置関係を以て穿設された測定基準孔若しくは基板回路孔である少なくとも一対の貫通孔の間の位置関係と、前記プリント基板に形成された回路パターン又はこれと所定の位置関係を以て形成された基準パターンである少なくとも一対のパターン部の間の位置関係とを比較し、前記貫通孔に対する前記パターン部の位置ずれ量を求める手段であり、前記基板検査部には、前記基板案内孔に嵌合する案内ピンを備え、前記プリント基板を案内ピンにより基板検査位置に位置決めするための案内板と、前記位置ずれ量に基づいて前記検査ヘッドの位置調整を行う制御手段とを備えたプリント基板の検査装置。
IPC (2件)：
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