特許
J-GLOBAL ID:200903064426762840
バッテリのセルショート検出方法および装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (4件):
瀧野 秀雄
, 越智 浩史
, 松村 貞男
, 垣内 勇
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-317192
公開番号(公開出願番号):特開2007-121228
出願日: 2005年10月31日
公開日(公表日): 2007年05月17日
要約:
【課題】比較的短時間でバッテリのセルショートを検出することができるバッテリのセルショート検出方法および装置を提供する。【解決手段】充電終了後、バッテリの開放電圧を所定のサンプリング周期で所定期間の間測定する開放電圧測定手段23a-1と、測定した開放電圧を収集する開放電圧収集手段23bと、収集した開放電圧に対して時間の経過順に予め定めた複数の期間の各期間内の前記開放電圧に基づいて近似された、べき数が-0.5となるかまたは略-0.5となる累乗近似式が漸近する電圧値を各期間の想定開回路電圧として求める想定開回路電圧算出手段23a-2と、想定開回路電圧算出手段23a-2で算出した各期間の想定開回路電圧が、時間の経過と共に減少しかつその減少度合いが予め決められた基準レベルを超えていた場合、セルショートが発生していると判定する判定手段23a-3とを備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
バッテリのセルショートを検出するバッテリのセルショート検出方法であって、
充電が終了した後、バッテリの開放電圧を所定のサンプリング周期で所定期間の間測定する開放電圧測定ステップと、
開放電圧測定ステップで測定した開放電圧を収集する開放電圧収集ステップと、
開放電圧収集ステップで収集した開放電圧に対して時間の経過順に予め定めた複数の期間の各期間内の前記開放電圧に基づいて近似された、べき数が-0.5となるかまたは略-0.5となる累乗近似式が漸近する電圧値を各期間の想定開回路電圧として求める想定開回路電圧算出ステップと、
想定開回路電圧算出ステップで算出した各期間の想定開回路電圧が、時間の経過と共に減少しかつその減少割合が予め決められた基準レベルを超えていた場合、セルショートが発生していると判定する判定ステップと
を含むことを特徴とするバッテリのセルショート検出方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01R31/36 A
, H01M10/48 P
Fターム (12件):
2G016CA03
, 2G016CB05
, 2G016CB11
, 2G016CC01
, 2G016CC03
, 2G016CC04
, 2G016CC16
, 2G016CC24
, 2G016CC27
, 2G016CC28
, 5H030AS08
, 5H030FF44
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