特許
J-GLOBAL ID：200903064444617040
センサ要素を校正するためのシステムおよび方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
津国 肇 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-289330
公開番号（公開出願番号）：特開平10-132777
出願日： 1997年10月22日
公開日（公表日）： 1998年05月22日
要約：
【要約】【課題】 センサ要素を自動的に校正する手段を提供することを目的とする。【解決手段】 複数の電気的接触部の配置と関連させて、校正コードを定義する手段を採用することにより解決した。
請求項（抜粋）：
試料中の分析対象物濃度を測定するためのシステムであって、ユーザーの試料を受け入れるためのセンサ手段;予め規定したパラメーター値を測定するために、予め規定した試験シーケンスを実施するための、センサ手段に応答する処理手段;およびセンサ手段と作動的に関連し、処理手段に結合した、処理手段により読み取られる自動校正コード化情報を提供するための自動校正コード手段(ここで、この自動校正コード化情報は、予め規定した試験シーケンスのために、処理手段により利用される)を有することを特徴とするシステム。
引用特許：
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