特許
J-GLOBAL ID：200903064446846675
分光分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-291098
公開番号（公開出願番号）：特開平11-125594
出願日： 1997年10月23日
公開日（公表日）： 1999年05月11日
要約：
【要約】【課題】 簡単な操作で、試料をその形状にかかわらずそれからの反射光又は透過光が適正な状態で受光できる配置状態に配置することができるようにする。【解決手段】 載置台6tに載置されている試料に計測用光線を照射する照射部7oと、試料からの反射光又は透過光を受光する受光部7iと、その受光部7iが受光した光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づいて試料の成分を分析する分光分析部が設けられた分光分析装置において、受光部7iが、載置台6tに載置される試料の横に配置され、載置台6tに載置されている試料が少なくとも計測のときにはその自重によって受光部7i側に動くように、載置台6tを試料を載せおろすときよりも試料を計測するときに急傾斜に傾斜操作する傾斜操作手段Bが設けられている。
請求項（抜粋）：
載置台に載置されている試料に計測用光線を照射する照射部と、試料からの反射光又は透過光を受光する受光部と、その受光部が受光した光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づいて試料の成分を分析する分光分析部が設けられた分光分析装置であって、前記受光部が、前記載置台に載置される試料の横に配置され、前記載置台は、それに載置されている試料がその自重によって前記受光部側に動くように傾斜姿勢で配置されている分光分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/27 Z
, G01N 33/02
