特許

J-GLOBAL ID：200903064457347158

光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性測定装置、並びに、光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性測定方法

発明者： 中山 明仁 ,  新谷 賢司 ,  小浜 俊介 ,  橋本 縁
出願人/特許権者： ソニー プレシジョン エンジニアリング センター(シンガポール) プライベートリミテッド ,  ディスクウエア株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-258799
公開番号（公開出願番号）：特開平11-195237
出願日： 1998年09月11日
公開日（公表日）： 1999年07月21日
要約：

【要約】【課題】 光ディスクの回転に偏心が生じていなくてもトラッキング信号を検出して特性値を測定することができる光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性測定装置等を提供する。【解決手段】 特性検査装置1では、光学ピックアップ2のフォトディテクタの出力を、信号A〜Fとして、直接サンプルホールド回路8及びA/Dコンバータ10がサンプリングして、デジタルデータを第2のメモリ11に格納する。演算処理部12dは、第2のメモリ11に格納されたデジタルデータに基づき、トラッキングエラー信号の測定を行う。その際に、信号発生回路25は、例えば正弦波信号をトラッキングコイル2bに供給し、光ディスクの照射されるレーザ光を半径方向に往復移動させる。

請求項（抜粋）：

光学ピックアップが有する光電変換部の出力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光の焦点位置を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合焦させるフォーカスサーボ制御手段と、光学ピックアップを制御して、レーザ光の照射位置をこの光ディスクの半径方向に往復移動させるレーザ制御手段と、トラッキングエラー信号を生成する為の信号を光学ピックアップが有する光電変換部の出力から検出し、この信号に基づき光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性値を測定する特性検出手段とを備える光学ピックアップ及び/又は光ディスクの特性測定装置。

IPC (3件)：

G11B 7/095 ,  G01M 11/00 ,  G11B 7/26 531

FI (3件)：

G11B 7/095 C ,  G01M 11/00 T ,  G11B 7/26 531

引用特許：

審査官引用 (2件)

• アクチュエータ特性測定装置及びそれを使用した偏心補正装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-158719   出願人：松下電器産業株式会社
• 光記録再生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-064848   出願人：ブラザー工業株式会社