特許

J-GLOBAL ID：200903064460134130

光部品自動測定装置

発明者： 伊藤 良久 ,  頼成 洋 ,  川添 英世 ,  千田 和憲 ,  花房 廣明
出願人/特許権者： 古河電気工業株式会社 ,  日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 小林 正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-180902
公開番号（公開出願番号）：特開平7-012680
出願日： 1993年06月25日
公開日（公表日）： 1995年01月17日
要約：

【要約】【目的】 構成が簡潔で、測定の作業性が良く、複数の入出力ポートを有する複数の光部品の光学的特性を効率良く測定できるようにする。【構成】 光源1と検査される光部品2の複数の入射ポート3とを一括で切替え接続可能な入射ポート側切替部4と、光受光器6と光部品2の複数の出射ポート5とを一括で切替え接続可能な出射ポート側切替部7とを設けた。また、光部品2の出射ポート5側の出射端面8を斜面にした。また、光部品2の出射ポート側切替部7の出射側マスターファイバ9を大口径ファイバにした。また、出射ポート側切替部7の出射側にセルフォックレンズを配置した。

請求項（抜粋）：

光源1と、検査される光部品2の複数の入射ポート3を一括で切替え接続可能な入射ポート側切替部4と、光受光器6と、光部品2の複数の出射ポート5を一括で切替え接続可能な出射ポート側切替部7とを備えたことを特徴とする光部品自動測定装置。

IPC (3件)：

G01M 11/00 ,  H01L 33/00 ,  B65H 43/08

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光ケーブルの検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-224320   出願人：住友電気工業株式会社
• 特開昭55-152433
  
• 特開昭55-182141