特許
J-GLOBAL ID：200903064642972638
はんだ付けの状態検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-081206
公開番号（公開出願番号）：特開平5-303627
出願日： 1991年03月22日
公開日（公表日）： 1993年11月16日
要約：
【要約】【目的】 高密度、小形化されたはんだ表面の状態の多様性、進展性、及び柔軟性に対応し、高度判定アルゴリズムを用いずに、微妙なはんだ付けの条件変化に応じ、最適に判断し、はんだ付け状態の検査測定することを目的とする。【構成】 電子部品の基板実装後のはんだ付け部を多段多照明による光源を順次切り替える手段または、相異なる色相の光源を用いて照明し、当該はんだ付け面を撮像カメラにて、複数の角度から撮像し、必要画像分布デ-タを、認識判定装置に入力し、ニュ-ロコンピュ-タの学習形階層式パ-セプトロンにて高速、正確に、且つ、形状レベルデ-タも含め、はんだ付け状態を認識判定検査する。
請求項（抜粋）：
電子部品の基板実装後のはんだ付け状態を多段多照明装置により照射し、それぞれの画像を撮像カメラにて撮像し、画像処理装置により必要抽出画像分布データから得られた、各段ににより構成される形状コードの配列分布状態のパターンを認識判定検査するはんだ付けの状態検査装置
IPC (4件)：
G06F 15/62 405
, G06F 15/18
, G06F 15/70 465
, H05K 3/34
