特許
J-GLOBAL ID：200903064706472499
平面表示装置の検査方法およびそれに用いる光学式撮像装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-078948
公開番号（公開出願番号）：特開平7-286938
出願日： 1994年04月18日
公開日（公表日）： 1995年10月31日
要約：
【要約】【目的】 平面表示装置の検査の信頼性を高めることができる検査方法を提供する。【構成】 LCDの検査を行う前に、光源59からの光がCCDカメラ56に達しないように、スライド台58に遮光板60を、透光孔を覆うように載置し、この状態でCCDカメラ56の撮像を行う。このとき、CCDカメラ56の正常な受光画素の検出レベルは黒色レベルになるが、欠陥受光画素の検出レベルは白色レベルを示す。CCDカメラ56からの撮像結果を画像処理ボード52で検出することで、各受光画素の検出レベルを調べ、欠陥受光画素を特定する。そして、LCDの検査を行う際に、当該欠陥受光画素の撮像結果を、その周囲に位置する正常受光画素の撮像結果を用いて補正することで、当該欠陥受光画素により、LCDの検査の信頼性が損なわれることを回避する。
請求項（抜粋）：
平面表示装置の表示部に対して、発光手段からの光を照射しながら、複数の受光画素をマトリクス状に配置した撮像手段により、前記発光手段と対向する向きから前記平面表示装置を撮像し、当該撮像結果に基づいて前記平面表示装置の表示画素の欠陥の有無を検査する検査方法において、前記発光手段からの光を遮光した状態で前記撮像手段による撮像を行い、当該撮像結果に基づいて、検出レベルが基準レベル以上の受光画素を欠陥受光画素として特定し、前記平面表示装置の検査を行う際に、前記撮像装置による前記平面表示装置の撮像結果のうち、前記特定された欠陥受光画素の撮像結果を、当該欠陥受光画素の周囲に配置された正常受光画素の撮像結果に基づいて補正し、当該補正された撮像結果に基づいて前記平面表示装置に含まれる欠陥表示画素を検出する平面表示装置の検査方法。
IPC (4件)：
G01M 11/00
, G01R 31/00
, G02F 1/13 101
, G06T 7/00
