特許
J-GLOBAL ID:200903064708590880
半導体装置の製造方法及び吸着コレット
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
服部 毅巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-212886
公開番号(公開出願番号):特開2009-049127
出願日: 2007年08月17日
公開日(公表日): 2009年03月05日
要約:
【課題】半導体装置の高信頼性を実現させる。【解決手段】ダイシングシート20の一方の主面に置かれた半導体素子11を、当該ダイシングシート20の他方の主面側から押し上げ、押し上げられた半導体素子11上に、吸着コレット100を近接配置する。そして、半導体素子11の表面に気体を噴出し、気体を排出する。更に、半導体素子11を、吸着コレット100に保持しつつダイシングシート20から剥離する。そして、半導体素子11を、吸着コレット100に保持しつつ支持部材上に搭載する。これにより、半導体装置の高信頼性が実現する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
ダイシングシートの一方の主面に置かれた半導体素子を、当該ダイシングシートの他方の主面側から押し上げる工程と、
押し上げられた前記半導体素子上に、吸着コレットを近接配置する工程と、
前記半導体素子の表面に気体を噴出する工程と、
前記気体を排出する工程と、
前記半導体素子を、前記吸着コレットに保持しつつ前記ダイシングシートから剥離する工程と、
前記半導体素子を、前記吸着コレットに保持しつつ支持部材上に搭載する工程と、
を具備してなることを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (3件):
H01L 21/52
, H01L 21/301
, H01L 21/67
FI (3件):
H01L21/52 F
, H01L21/78 Y
, H01L21/68 E
Fターム (17件):
5F031CA13
, 5F031DA13
, 5F031DA15
, 5F031GA23
, 5F031HA78
, 5F031MA35
, 5F031MA40
, 5F031NA05
, 5F031NA14
, 5F031NA15
, 5F031PA21
, 5F047FA04
, 5F047FA08
, 5F047FA25
, 5F047FA62
, 5F047FA66
, 5F047FA67
引用特許:
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