特許
J-GLOBAL ID:200903064708590880

半導体装置の製造方法及び吸着コレット

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 服部 毅巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-212886
公開番号(公開出願番号):特開2009-049127
出願日: 2007年08月17日
公開日(公表日): 2009年03月05日
要約:
【課題】半導体装置の高信頼性を実現させる。【解決手段】ダイシングシート20の一方の主面に置かれた半導体素子11を、当該ダイシングシート20の他方の主面側から押し上げ、押し上げられた半導体素子11上に、吸着コレット100を近接配置する。そして、半導体素子11の表面に気体を噴出し、気体を排出する。更に、半導体素子11を、吸着コレット100に保持しつつダイシングシート20から剥離する。そして、半導体素子11を、吸着コレット100に保持しつつ支持部材上に搭載する。これにより、半導体装置の高信頼性が実現する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
ダイシングシートの一方の主面に置かれた半導体素子を、当該ダイシングシートの他方の主面側から押し上げる工程と、 押し上げられた前記半導体素子上に、吸着コレットを近接配置する工程と、 前記半導体素子の表面に気体を噴出する工程と、 前記気体を排出する工程と、 前記半導体素子を、前記吸着コレットに保持しつつ前記ダイシングシートから剥離する工程と、 前記半導体素子を、前記吸着コレットに保持しつつ支持部材上に搭載する工程と、 を具備してなることを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (3件):
H01L 21/52 ,  H01L 21/301 ,  H01L 21/67
FI (3件):
H01L21/52 F ,  H01L21/78 Y ,  H01L21/68 E
Fターム (17件):
5F031CA13 ,  5F031DA13 ,  5F031DA15 ,  5F031GA23 ,  5F031HA78 ,  5F031MA35 ,  5F031MA40 ,  5F031NA05 ,  5F031NA14 ,  5F031NA15 ,  5F031PA21 ,  5F047FA04 ,  5F047FA08 ,  5F047FA25 ,  5F047FA62 ,  5F047FA66 ,  5F047FA67
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特開平03-079042号公報

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