特許

J-GLOBAL ID：200903064738456487

SH波による超音波探傷方法及びSH波斜角探触子

発明者： 山田 浩司 ,  藤田 利明
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社 ,  株式会社ジャパンテクノメイト
代理人 (1件)： 佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-357331
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180419
出願日： 1998年12月16日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：

【要約】【課題】 SH波探触子による超音波探傷において、高粘性の接触媒質が不要で、また所定の押圧力で探触子を被検体に押し付ける必要がない探傷方法及びSH波探触子。【解決手段】 被検体5の表面に接触媒質3を介してSH波斜角探触子1を接触させ超音波探傷を行う方法及び探触子において、斜角形成用くさびの探傷面に所定の音響インピーダンスで且つ所定の厚さの高分子膜2を生成し、前記くさび、高分子膜2、接触媒質3及び被検体5の伝播路によりSH波を被検体5に送波し、被検体5から反射されたSH波を前記伝播路と逆方向の伝播路により受波する。

請求項（抜粋）：

被検体表面に接触媒質を介してSH波斜角探触子を接して超音波探傷を行う方法において、斜角形成用くさびの探傷面に所定の音響インピーダンスで且つ所定の厚さの高分子膜を生成し、前記くさび、高分子膜、接触媒質及び被検体の伝播路によりSH波を被検体に送波し、前記被検体から反射されたSH波を前記伝播路と逆方向の伝播路により受波することを特徴とするSH波による超音波探傷方法。

IPC (3件)：

G01N 29/04 502 ,  G01N 29/24 504 ,  H04R 1/00 330

FI (3件)：

G01N 29/04 502 ,  G01N 29/24 504 ,  H04R 1/00 330 A

Fターム (12件)：

2G047BB02 ,  2G047BC07 ,  2G047CB00 ,  2G047CB02 ,  2G047EA10 ,  2G047GB04 ,  2G047GB27 ,  2G047GB28 ,  2G047GE01 ,  5D019AA22 ,  5D019FF05 ,  5D019GG01