特許

J-GLOBAL ID：200903064845497340

検査用コネクタおよびその製造方法

発明者： 山下 力
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 若林 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-181337
公開番号（公開出願番号）：特開平7-037942
出願日： 1993年07月22日
公開日（公表日）： 1995年02月07日
要約：

【要約】【目的】 フリップチップのチップ状態で電気特性評価が行えるように低圧で加圧可能な検査用コネクタを提供する。【構成】 検査用コネクタ1は、耐熱温度の高い絶縁性樹脂シート2に孔が穿設され、その孔の少なくとも一方の開口の周縁部を覆うように金属材料からなるパターン部3が形成され、パターン部3全体を覆って前記孔に半田4が埋設されている。

請求項（抜粋）：

高耐熱性の絶縁性樹脂シートに穿設された複数の孔にそれぞれ半田が埋設されている検査用コネクタ。