並列振動分光法による高スループットのスクリーニング

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：平木祐輔 , 石井貞次 , 藤田節
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-555601
公開番号（公開出願番号）：特表2006-507504
出願日： 2003年11月21日
公開日（公表日）： 2006年03月02日
要約：

広帯域フーリエ変換赤外(FTIR)分光法によって複数サンプル中の分子相互作用を同時アッセイするための方法および装置が開示される。サンプルは、複数ウェルのプレートおよび赤外光を導く光学構造、例えば、プリズム(図1)を含むサンプルホルダー(130)中に置かれる。様々な実施形態は、サンプル・ウェルと光学構造の間の異なる構造的な関係を含む。フーリエ解析による複数の波長の走査は、赤外光に適合性のある固体材料内に配置された多数のサンプル・ウェルと併用される。詳細には、非常に大規模の測定デバイスおよびそれを使用するためのシステムが、半導体加工に用いられるリソグラフィーおよび他の技術から作製される。

請求項（抜粋）：

(a)分子相互作用を探査するための広帯域赤外線源と、 (b)(a)からの広帯域赤外線の変調器と、 (c)各サンプル・ウェルとの光学界面を有する複数のウェル型サンプルホルダーであって、前記光学界面が、変調された広帯域赤外線をサンプルホルダーの赤外線透過表面とサンプルとの間の少なくとも1つの界面表面に導き、内部反射およびそれに続く変更された光の射出を可能にする、サンプルホルダーと、 (d)変更された光を検出するための赤外線検出器と、 (e)赤外線検出器からのデータを解析するコンピュータとを含む、並列振動分光法によって複数のウェット・サンプル中の分子相互作用を同時にアッセイする装置。

IPC (11件)：

G01N 21/27 , C12M 1/00 , C12M 1/34 , G01N 21/01 , G01N 21/35 , G01N 33/15 , G01N 33/483 , G01N 33/50 , G01N 33/53 , G01N 33/566 , G01N 37/00

FI (13件)：

G01N21/27 C , C12M1/00 A , C12M1/34 A , G01N21/01 B , G01N21/01 C , G01N21/35 Z , G01N33/15 Z , G01N33/483 C , G01N33/50 Z , G01N33/53 D , G01N33/53 Y , G01N33/566 , G01N37/00 102

Fターム (29件)：

2G045DA36 , 2G045FA12 , 2G045FA25 , 2G059AA05 , 2G059BB04 , 2G059BB12 , 2G059BB13 , 2G059DD13 , 2G059DD16 , 2G059EE02 , 2G059EE10 , 2G059EE12 , 2G059FF04 , 2G059HH01 , 2G059JJ02 , 2G059JJ12 , 2G059KK01 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2G059MM03 , 2G059MM05 , 4B029AA07 , 4B029AA21 , 4B029BB01 , 4B029BB15 , 4B029CC01 , 4B029CC02 , 4B029CC08 , 4B029FA15

引用特許：

審査官引用 (1件)

全反射減衰を利用した測定方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-049681 出願人：富士写真フイルム株式会社

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