特許

J-GLOBAL ID：200903064878720559

カットオフ波長の測定方法

発明者： 飛坂 優二 ,  平沢 秀夫
出願人/特許権者： 信越化学工業株式会社
代理人 (1件)： 山本 亮一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-060453
公開番号（公開出願番号）：特開平9-229816
出願日： 1996年03月18日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 光ファイバのカットオフ波長の測定時におけるハンプの発生を抑え、測定精度の高い測定方法を提供する。【解決手段】 本発明によるカットオフ波長の測定方法は、試料長2mの光ファイバに直径 280mmの曲げを加えたときの透過光パワーP1 と、この光ファイバに直径60mmの曲げを加えたときの透過光パワーP2 とのパワー比が 0.1dBとなる最長の波長をカットオフ波長とするカットオフ波長の測定方法において、光ファイバにねじりを加えて透過光パワーを測定することを特徴とするものである。

請求項（抜粋）：

試料長2mの光ファイバに直径 280mmの曲げを加えたときの透過光パワーP1 と、この光ファイバに直径60mmの曲げを加えたときの透過光パワーP2 とのパワー比が 0.1dBとなる最長の波長をカットオフ波長とするカットオフ波長の測定方法において、光ファイバにねじりを加えて透過光パワーを測定することを特徴とするカットオフ波長の測定方法。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭61-107129
  
• 特開平1-232229
  
• 特開昭61-107129
  
• 特開平1-232229