特許

J-GLOBAL ID：200903064882738845

微粒子測定装置

発明者： 八木 大三
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-072626
公開番号（公開出願番号）：特開平5-232012
出願日： 1992年02月22日
公開日（公表日）： 1993年09月07日
要約：

【要約】【目的】 光源ノイズを低減し、極めて小さい微粒子でも確実に測定できる検出感度の良好な微粒子測定装置を提供すること。【構成】 光源としてシングルモード発振形半導体レーザ1を用いると共に、このシングルモード発振形半導体レーザ1に内蔵されているレーザ光量センサ9の出力が常に一定になるようにレーザ電流を制御すると共に、モードホップを検出した時点でシングルモード発振形半導体レーザ1の温度制御における設定温度を切換えるようにしている。

請求項（抜粋）：

光源からのレーザ光を試料流体に照射し、試料流体中の微粒子による散乱光を検出することによって、前記微粒子を測定する微粒子測定装置において、前記光源としてシングルモード発振形半導体レーザを用いると共に、このシングルモード発振形半導体レーザに内蔵されているレーザ光量センサの出力が常に一定になるようにレーザ電流を制御すると共に、モードホップを検出した時点で前記シングルモード発振形半導体レーザの温度制御における設定温度を切換えるようにしたことを特徴とする微粒子測定装置。