特許
J-GLOBAL ID：200903064902761814
データ生成装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-187321
公開番号（公開出願番号）：特開平5-026975
出願日： 1991年07月26日
公開日（公表日）： 1993年02月05日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 テストデータ作成を容易に行うデータ生成装置を提供する。【構成】 半導体集積回路に対し動作不良の有無を判定するテスト用のデータ生成装置において、入力する論理情報内の複数のフリップフロップをスキャン用のフリップフロップとし、該各スキャン用フリップフロップ間及びスキャン用フリップフロップと外部ピンとの間の結線情報を該論理情報に付加する第1データ処理手段2、所定機能のロジックを有する機能ブロックをテスト専用ピンを有する機能ブロックとし、該テスト専用ピンと外部ピンとの間の結線情報及び該機能ブロックを外部ピンから直接制御するための論理情報を該論理情報に付加する第2データ処理手段3、該第1,第2データ処理手段2,3により処理された論理情報を格納する論理情報格納手段5並びに、格納された論理情報に基づいてテストデータを自動生成するデータ自動生成手段4を備える。
請求項（抜粋）：
半導体集積回路に対して所定の内部論理情報を入力することにより動作不良の有無を判定するテスト回路用のデータを生成するデータ生成装置において、入力する論理情報内の複数のフリップフロップをスキャン用のフリップフロップとし、該各スキャン用フリップフロップ間、及びスキャン用フリップフロップと外部ピンとの間の結線情報を該論理情報に付加する第1データ処理手段と、所定機能のロジックを有する機能ブロックを、テスト専用ピンを有する機能ブロックとし、該テスト専用ピンと外部ピンとの間の結線情報、及び該機能ブロックを外部ピンから直接制御するための論理情報を該論理情報に付加する第2データ処理手段と、該第1,2データ処理手段により処理された論理情報を格納する論理情報格納手段と、前記論理情報格納手段に格納された論理情報に基づいてテストデータを自動生成するデータ自動生成手段と、を備えることを特徴とするデータ生成装置。
IPC (3件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 310
, G06F 11/22 330
