特許

J-GLOBAL ID：200903064934807360

コンデンサ用金属化フィルム欠陥検出方法

発明者： 本間 忠一 ,  田中 章順 ,  西本 育夫
出願人/特許権者： 本州製紙株式会社 ,  山武ハネウエル株式会社
代理人 (1件)： 小山田 光夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-204201
公開番号（公開出願番号）：特開平8-050106
出願日： 1994年08月08日
公開日（公表日）： 1996年02月20日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 基材フィルム上に連続して形成された金属蒸着面と非蒸着面とが交互に縞状に形成されたコンデンサ用金属化フィルムの欠陥検出方法を提供する。【構成】 金属化フィルム2のシート面の片側に高周波蛍光灯1を配置し、これと対応する他方側に幅方向のスリット4aを有する遮光板4および流れ方向に配列された2分割受光素子3を配置し、上記高周波蛍光灯からの拡散光を金属化フィルムに照射して、この金属化フィルムの流れ方向の二つの測定領域3a,3bからの透過した光を2分割受光素子で受光するようにし、この二つの受光素子からの信号A,Bからの和信号A+Bおよび差信号A-Bを演算して出力させ、これによりコンデンサ用金属化フィルムの欠陥を検出するようにしたコンデンサ用金属化フィルム欠陥検出方法である。

請求項（抜粋）：

金属化フィルムのシート面の片側に高周波蛍光灯を配置し、これと対応する他方側に幅方向のスリットを有する遮光板および流れ方向に配列された2分割受光素子を配置し、上記高周波蛍光灯からの拡散光を金属化フィルムに照射して、この金属化フィルムの流れ方向の二つの測定領域からの透過した光を上記2分割受光素子で受光するようにし、この二つの受光素子からの信号A,Bからの和信号A+Bおよび差信号A-Bを演算して出力させ、これによりコンデンサ用金属化フィルムの欠陥を検出するようにしたことを特徴とするコンデンサ用金属化フィルム欠陥検出方法。

IPC (2件)：

G01N 21/89 ,  H01G 4/18

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開昭54-158987
  
• 特開平4-168638
  
• 特開平1-197639