特許

J-GLOBAL ID：200903064969846830

磁場測定装置、および、これを利用した磁場印加装置、および、これを利用した磁気遮蔽装置

発明者： 師岡 利光
出願人/特許権者： セイコーインスツルメンツ株式会社
代理人 (1件)： 林 敬之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-260475
公開番号（公開出願番号）：特開2001-083226
出願日： 1999年09月14日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：

【要約】【課題】 環境磁場、および、物質や生体から発生する磁場を測定する磁場測定装置に関し、高精度で磁場を測定できる磁場測定装置、および、試料や空間に必要な磁場を正確に印加できる磁場印加装置、および、正確にゼロ磁場環境の領域が得られる磁気遮蔽装置を提供する。【解決手段】 磁場検出器1を超伝導状態にある超伝導体3の極表面(POS2)に設置し、そのときの磁場測定装置の読みを基準値とする。そして、実際の磁場測定位置の磁場を測定し、基準値と比較することにより磁場測定位置の磁場の絶対値を検出する。

請求項（抜粋）：

磁場検出器を用いて、環境磁場、および、物質や生体から発生する磁場を測定する磁場測定装置において、超伝導体とその超伝導体を超伝導状態にするための冷却手段を備え、前記超伝導体の極近傍における磁場を測定したときの前記磁場検出器の読みを基準値とし、さらに前記超伝導体から離れた磁場測定位置での前記磁気検出器の出力を読み、前記基準値と比較することにより磁場測定位置の絶対値を測定することを特徴とする磁場測定装置。

Fターム (4件)：

2G017AA16 ,  2G017AB02 ,  2G017AB07 ,  2G017AD31