特許

J-GLOBAL ID：200903064995383750

真空遮断器用接点材料およびその製造方法

発明者： 南 淑子 ,  新田 晃久 ,  堀江 宏道 ,  佐藤 純一 ,  渡辺 憲治
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-187702
公開番号（公開出願番号）：特開平10-031942
出願日： 1996年07月17日
公開日（公表日）： 1998年02月03日
要約：

【要約】【課題】真空遮断器の接点として使用した場合に再点弧発生頻度を低減でき、遮断特性を大幅に改善でき、遮断性能が安定した真空遮断器を量産することが可能な真空遮断器用接点材料およびその製造方法を提供する。【解決手段】耐弧成分としてのクロム相と高導電成分としての銅相とから成る真空遮断器用接点材料であり、上記クロム相中の酸素含有量が200〜1000ppmであることを特徴とする。またクロム相に含有される酸素成分が酸化クロムとして存在することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

耐弧成分としてのクロム相と高導電成分としての銅相とから成る真空遮断器用接点材料であり、上記クロム相中の酸素含有量が200〜1000ppmであることを特徴とする真空遮断器用接点材料。

IPC (6件)：

H01H 33/66 ,  B22F 3/14 ,  B22F 3/26 ,  C22C 1/04 ,  C22C 9/00 ,  H01H 1/02

FI (6件)：

H01H 33/66 B ,  B22F 3/26 C ,  C22C 1/04 P ,  C22C 9/00 ,  H01H 1/02 C ,  B22F 3/14 101 B