特許
J-GLOBAL ID：200903065037268771
電子部品の端子検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 清
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-080879
公開番号（公開出願番号）：特開平8-247735
出願日： 1995年03月14日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：
【要約】【目的】 電子部品を装着した状態に近い状態で検査可能な電子部品の端子検査装置を提供する。【構成】ガラスデーブル1に載せた被測定対象ワークWのリードL下面にレーザ発光部10からレーザ光を照射し、その反射光をポジションセンサ12により受光し、反射光の変位量pから、リードLの浮き量を求める。
請求項（抜粋）：
被検査対象である電子部品を載置する光透過体と、該光透過体の下側から載置された電子部品の端子の下面に光を投射する手段と、該端子に反射される反射光の基準位置からの偏差を検出する手段と、該検出する手段からの信号により前記電子部品の端子下面の基準位置からの変位を算出する手段と、を備えたことを特徴とする電子部品の端子検査装置。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01B 11/14
, G01C 3/06
, H01L 21/66
G01B 11/24 C
, G01B 11/14 Z
, G01C 3/06 A
, H01L 21/66 J
