特許
J-GLOBAL ID：200903065042556912
電子写真感光体用導電性基体および基体表面形状評価方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-245831
公開番号（公開出願番号）：特開平7-104497
出願日： 1993年10月01日
公開日（公表日）： 1995年04月21日
要約：
【要約】【目的】基体の新規な表面形状評価方法を提供し、その方法により評価して感光層の密着性が良く、均質で高解像度化,高階調化に対応でき、しかも基体表面加工痕跡が画像に現れない感光体を得ることが可能な基体を提供する【構成】表面形状を表面粗さ測定装置で測定して得られる断面曲線1上で、平均線2を中心とした仕切り幅Xを規定し、この仕切り幅を超える相隣る山と谷の一対からなるピーク4の単位長Lあたりの数により表面形状を評価する。このような方法で仕切り幅Xを20μmとし単位長Lを1cmとしたときのピーク4の数を100以下とした基体を用いて有機感光体を作製する。
請求項（抜粋）：
表面形状を表面粗さ測定装置により測定したときに得られる断面曲線上で、平均線を中心とした仕切り幅を規定し、この仕切り幅を超える相隣る山と谷の一対からなるピークの単位長あたりの数により表面形状を評価することを特徴とする基体表面形状評価方法。
IPC (2件)：
G03G 5/10
, G01B 21/30 102
