特許
J-GLOBAL ID：200903065056408479
伝搬測定装置及び伝搬測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
龍華 明裕
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2002006175
公開番号（公開出願番号）：WO2003-005002
出願日： 2002年06月20日
公開日（公表日）： 2003年01月16日
要約：
被測定物の伝搬特性を測定する伝搬測定装置であって、第1の周波数の第1光信号を出力する第1光源と、第2の周波数の第2光信号を出力する第2光源と、第1光信号及び第2光信号を用いて、第1の周波数と第2の周波数との差の周波数のテラヘルツ光を生成し、被測定物に放射するテラヘルツ光出力部と、被測定物を透過したテラヘルツ光を検出する第1検出部と、第1検出部が検出したテラヘルツ光に基づいて、被測定物の伝搬特性を測定する測定部とを備える。
請求項（抜粋）：
被測定物の伝搬特性を測定する伝搬測定装置であって、
第1の周波数の第1光信号を出力する第1光源と、
第2の周波数の第2光信号を出力する第2光源と、
前記第1光信号及び前記第2光信号を用いて、前記第1の周波数と前記第2の周波数との差の周波数のテラヘルツ光を生成し、前記被測定物に放射するテラヘルツ光出力部と、
前記被測定物を透過した前記テラヘルツ光を検出する第1検出部と、
前記第1検出部が検出した前記テラヘルツ光に基づいて、前記被測定物の伝搬特性を測定する測定部と
を備えることを特徴とする伝搬測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/35 Z
, G01N21/27 H
