特許
J-GLOBAL ID:200903065123899466

低コヒーレンス干渉計を用いて組織を識別するためのシステムおよび方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 正林 真之
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-503161
公開番号(公開出願番号):特表2006-516739
出願日: 2004年01月26日
公開日(公表日): 2006年07月06日
要約:
【課題】正確な画像システム、プロセスおよび穿刺生検プローブであって、干渉計測距装置を用いて組織タイプを認識するためのシステム及び装置、プロセス、ソフトウェア構成、記憶媒体を提供する。【解決手段】システム(600)は、光学連結器(58)を介して光学ファイバ(25)に連結された画像システム(5)と、光学ファイバ(29)とを含む。光学ファイバ(25)は、注射器(51)に操作可能に連係され、かつ注射針(52)の内径部を通過する。ホルダ(612)は注射外筒により注射器(51)に連係される。フィードバック装置(620)はホルダ(612)に連係されてもよい。
請求項(抜粋):
組織特性を識別するための装置であって、 照射を用いて前記組織の体軸横断走査を行なうように構成された照射光源と、 前記体軸横断走査に基づいて、体軸横断走査照射を受けとり、前記組織の特性を識別するために、前記体軸横断走査照射に関連してデータを加工するように適合された画像システムと、を含む装置。
IPC (1件):
G01N 21/17
FI (1件):
G01N21/17 625
Fターム (16件):
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059GG02 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059NN01
引用特許:
審査官引用 (4件)
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