特許

J-GLOBAL ID：200903065127996300

ピンホール検査装置

発明者： 菅埜 幸治 ,  奥村 由治 ,  安藤 勝敏
出願人/特許権者： 東レ株式会社
代理人 (1件)： 小川 信一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-173158
公開番号（公開出願番号）：特開平6-018445
出願日： 1992年06月30日
公開日（公表日）： 1994年01月25日
要約：

【要約】【目的】 固体撮像素子を受光部に用いたイメージセンサ方式の特長を生かしつつ、光の透過性の高いシートにおける小径のピンホールを高精度に検出可能にしたピンホール検査装置を提供する。【構成】 測定対象となるシート4の一方に光源1を配置し、他方に固体撮像素子からなる受光部6を配置したイメージセンサ方式のピンホール検査装置において、シート4と光源1との間に偏光板3を配置し、シート4と受光部6との間に偏光板5を配置し、これら一対の偏光板3,5の偏光面のずれを20度以下にする。

請求項（抜粋）：

測定対象となるシートの一方に光源を配置し、他方に固体撮像素子からなる受光部を配置したイメージセンサ方式のピンホール検査装置において、前記シートと前記光源との間および前記シートと前記受光部との間にそれぞれ偏光板を配置し、かつ該一対の偏光板の偏光面のずれを20度以下にしたことを特徴とするピンホール検査装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭50-039591
  
• 特開昭63-163152
  
• 特開平2-107951
  
• 特公昭46-042151